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Blanket

Blanke _ High-k (HfO2,ZrO2,Al2O3,TiO2)

300mm 실리콘 웨이퍼 위에 High-k 유전막을 증착하는 Blanket Wafer 제작 서비스입니다.
Blanke _ High-k (HfO2,ZrO2,Al2O3,TiO2) 구조

제작 사양

웨이퍼 규격
300mm
기판
Sub_Si
하부막
LPTEOS 500Å/TiN <300Å
상부막
High-k <50Å

공정 및 장비

단계 공정 진행 장비
01 FN Cleaning NSM312
02 Oxidation FORMULA
03 Ox SCR NSM312
04 ALD TiN Dep. Triase+EX-II TiN Plus
05 TiN Dep. SCR NSM312
06 High-k Dep. GUIDENCE
07 Thickness Measurement ECHO
08 Particle Measurement SP7XP

유의사항

  • TiN Dep. SCR은 RINSE 단독 또는 NANO 방식으로 진행됩니다.